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鏡面外觀缺陷檢測系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹產(chǎn)品簡介: 晶圓、基片及精密光學(xué)元件表面缺陷自動篩查和量測 檢測對象: 晶圓片、蓋板、基片、精密光學(xué)元件(平晶,棱鏡,玻片等) 面向行業(yè): 半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、3C蓋板及光學(xué)基片、光學(xué)拋光加工
技術(shù)參數(shù)技術(shù)參數(shù): Ø 缺陷最大檢測口徑300X200mm (覆蓋8寸晶圓,可訂制12寸晶圓機(jī)臺) Ø 缺陷檢測分辨率最高0.5um Ø 缺陷檢測類型: 麻點、劃痕、紋理、異色、破邊等 Ø 自動缺陷識別及尺寸量測 Ø 手動上下片,支持半自動和自動上下片的開發(fā) Ø 技術(shù)特點 Ø 采用多模式成像確保各種不同類型的缺陷能夠被檢測 Ø 可以按照20/10、40/20、60/40標(biāo)準(zhǔn)對缺陷進(jìn)行量測判定 Ø 軟硬件可以按照實際樣品檢測需求進(jìn)行訂制 可附帶增加檢測基片三維翹曲功能 ◆ 測量實例 麻點和劃痕 表面紋理 |
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