介紹原子力顯微鏡(AFM)

初識(shí)原子力顯微鏡

余憶童幼時(shí),能張目對(duì)日,明察秋毫

見(jiàn)貌小微物,必細(xì)察其紋理,故時(shí)有物外之趣

        --  兒時(shí)記憶 沈復(fù)

縱觀古今所有的發(fā)明無(wú)一不是對(duì)自然現(xiàn)象的觀察,進(jìn)而觸發(fā)靈感再經(jīng)研究發(fā)展而生新事物,由此凸顯"觀察"的重要性.隨著科技的發(fā)展進(jìn)入到納米世界領(lǐng)域,而"觀察"這項(xiàng)工作也漸漸遠(yuǎn)超過(guò)肉眼,放大鏡,光學(xué)顯微鏡等儀器所能負(fù)荷的范圍.所以原子力顯微鏡(AFM)相應(yīng)而生.

AFM簡(jiǎn)介

1. 全名 Atomic force microscope 簡(jiǎn)稱(chēng)AFM

2.1986年由G.Bining,C.F. Quate和C.Gerber共同發(fā)明

3.原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用原子隧道效應(yīng),而是利用原子之間的凡得瓦力(Van Der Waals Force)作用來(lái)呈現(xiàn)樣品的表明特征.

原子力顯微鏡的分類(lèi)

原子力顯微鏡大致分為三類(lèi): 1.接觸式 2.非接觸式 3.敲擊式 

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