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FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機 對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析
產(chǎn)品介紹一、簡介： FM-AR532/AR785是一臺整合了原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀的先進設備，是兩者技術的完美結合。 可以分別利用原子力顯微鏡和拉曼光譜儀對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析，從而對樣品提供更加全面的信息。 這樣的集成，能讓用戶極大的提高工作效率，將更多的時間用于數(shù)據(jù)采集和分析，而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。 二、特點： 1、光機電算一體化設計。 2、內置復消色差光學系統(tǒng)，同時清楚看到探針針尖和拉曼激光光斑。3、不移動樣品可以從相同的點同時采集AFM和拉曼數(shù)據(jù)，原位檢測樣品的各種形貌信息與化學信息，這樣就確保了數(shù)據(jù)的一致性。 3、高通量的光信號收集和檢測硬件保證采集每一點的信號和拉曼光譜。 4、掃描探頭和激光耦合器集成一體，懸掛式防震，抗干擾能力強。 三、應用： 納米科技、物理、化學、藥物學、材料科學、半導體研究、晶體研究、薄膜與聚合物研究、礦物學、地質學、分析科學等。 技術參數(shù)原子力顯微鏡：
拉曼光譜儀：
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FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng)，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域 |
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FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡 開啟全民原子力顯微鏡時代，掃描范圍更廣，定位更精確 |
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自由曲面三維面型檢測系統(tǒng) |
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原子力顯微鏡（環(huán)境控制型）FM-Nanoview EC-AFM |
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原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM |
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三維測量顯微鏡 |
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